Analýza dat 2002 I : 16.-18.4. 2002
170 stran
- M. Janata, R. Magdon:Optimalizace postupu výroby Schottkyho diod s využitím metodiky DOE
- M. Meloun: Výhody a přednosti vícerozměrné analýzy dat
- K. Kupka: Metody statistického řízení jakosti
- K. Kupka: Techniky Data Mining
- J. Michálek: Koeficienty způsobilosti a výkonnosti a jejich odhady
- J. Militký: Základní pojmy ze statistiky a pravděpodobnosti
- J. Militký: Chyby měření
- J. Militký, M. Meloun: Typické modely měření v analytické chemii
- J. Militký, M. Meloun: Nejistoty výsledků měření
- Z. Karpíšek, P. Jelínek: Výpočty a aplikace ve spolehlivosti
- J. Mocák, B. Balla, E.Varmusová, D. Kavková, I. Tudík: Charakteristiky úspešnosti laboratórnych testov, možnosti počítačom podporovanej klinickej diagnózy
- D. Noskievičová: Statistická regulace procesu v podmínkách kontinuálního odlévání hliníku
- R. Novotný: Taguchiho přístup v optimalizaci technologického procesu
ISBN 80-238-9281-9
|
Analýza dat 2002 I
Obsah objednávky